首页 > 远程教育> 国家开放大学
题目内容 (请给出正确答案)
[主观题]

太阳电池用直拉单晶硅中的主要缺陷是()。

太阳电池用直拉单晶硅中的主要缺陷是()。

A、二次缺陷

B、位错

C、空位

D、杂质原子

查看答案
答案
收藏
如果结果不匹配,请 联系老师 获取答案
您可能会需要:
您的账号:,可能还需要:
您的账号:
发送账号密码至手机
发送
安装优题宝APP,拍照搜题省时又省心!
更多“太阳电池用直拉单晶硅中的主要缺陷是()。”相关的问题
第1题
微电子工业和单晶硅太阳电池的生产的特点在于()。

A、从高纯多晶硅转化成单晶硅的步骤都非常重要

B、后者采用直拉法或区熔法单晶硅,而前者不是

C、前者主要采用FZ硅,而后者主要采用CZ硅

D、两者可以采用同样的高纯多晶硅作为原料

点击查看答案
第2题
在晶体中形成空位的同时又产生间隙原子,这样的缺陷称为:

A.肖脱基缺陷

B.弗兰克缺陷

C.线缺陷

D.面缺陷

点击查看答案
第3题
中温回复主要表现为 的运动

A.位错

B.空位

C.间隙原子

D.晶界

点击查看答案
第4题
晶体生长过程中产生的缺陷称为()。

A、原生长缺陷

B、二次缺陷

C、点缺陷

D、诱生缺陷

点击查看答案
第5题
下列哪些选项是光纤材料的吸收 ()

A.本征吸收

B.散射吸收

C.杂质吸收

D.原子缺陷吸收

点击查看答案
第6题
晶体由N个原子组成,如图3-2所示.当原子离开正常位置而占据图巾的格点间隙位置时,晶体中就出现空位和填隙原
晶体由N个原子组成,如图3-2所示.当原子离开正常位置而占据图巾的格点间隙位置时,晶体中就出现空位和填隙原子.品体的这种缺陷称为弗仑克尔(Frenkel)缺陷.假设正常位置和填隙位置数均为N,试证明:由于在晶体中形成n个空位和填隙原子而具有的熵等于

设原子在填隙位置和正常位置的能量差为u,证明当nN时,有

点击查看答案
第7题
杂质半导体中,多数载流子的浓度主要取决于()。

A.温度

B.掺杂工艺

C.掺杂浓度

D.晶格缺陷

点击查看答案
第8题
遗传性血管神经性水肿是由哪类补体缺陷引起的()A、C3缺陷B、C4缺陷C、C1INHD、C1q缺陷E、C9缺陷
遗传性血管神经性水肿是由哪类补体缺陷引起的()

A、C3缺陷

B、C4缺陷

C、C1INH

D、C1q缺陷

E、C9缺陷

点击查看答案
第9题
最少见的原发性免疫缺陷病是

A、原发性B细胞缺陷

B、原发性T细胞缺陷

C、重症联合免疫缺陷

D、原发性吞噬细胞缺陷

E、原发性补体系统缺陷

点击查看答案
退出 登录/注册
发送账号至手机
密码将被重置
获取验证码
发送
温馨提示
该问题答案仅针对搜题卡用户开放,请点击购买搜题卡。
马上购买搜题卡
我已购买搜题卡, 登录账号 继续查看答案
重置密码
确认修改