缺陷探测率是衡量测试投资回报的一个重要指标，是衡量测试工作效率的软件质量成本指标之一。其计算公式如下： 　　
DDP=Bugs(tester) / （Bugs(tester)+Bugs(customer)） 　　
其中，Bugs(tester)为软件开发方测试者发现的Bugs数目，Bugs(customer)为客户方发现并反馈技术支持人员进行修复的Bugs数目。 　　
缺陷探测率越高，说明测试者发现的Bugs数目越多，发布后客户发现的Bugs就越少，降低了外部故障不一致成本，达到了节约总成本的目的，可获得较高的测试投资回报率。
从计算公式，我们可以看出缺陷探测率与测试周期没有直接关系。