题目内容
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[主观题]
tanδ测试时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈闭合的环状曲线,则试品属于()。A.良好绝缘B.绝缘中
tanδ测试时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈闭合的环状曲线,则试品属于()。
A.良好绝缘
B.绝缘中存在气隙
C.绝缘受潮
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tanδ测试时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈闭合的环状曲线,则试品属于()。
A.良好绝缘
B.绝缘中存在气隙
C.绝缘受潮
A.应测量绝缘电阻
B.20kV及以上非纯瓷套管应测量介质损耗因数(tanδ)和电容值
C.末屏需检查接地是否良好,对绝缘有怀疑时需进行绝缘电阻测试
D.应进行交流耐压试验